杨五强：清华华大学获得学士、硕士及博士学位后留校任教，现为曼彻斯特大学教授，IEEE FELLOW。主要研究领域为工业过程成像，尤其是电容层析成像，图像重建，传感及数据采集系统，电子电路设计，仪器及多相流测量。杨教授为特许工程师，英国IET会士，InstMC会士，IEEE高级会员。 已发表250余篇学术论文，包括30多篇综述性期刊文章。是5所大学/机构的客座教授/科学顾问，4个国际期刊杂志的编委。1997年曾荣获IEE测量仪器奖，测量与控制协会的Honeywell奖，2000年获得IEE Ayrton Premium，2009年获得IET Innovation Award提名奖。他的简历自2002年被美国Who’s Who in the World, Who’s Who in Science and Engineering 及Who’s Who收录。法国科学研究国际中心认定他为世界上30位顶尖技术研究人员之一。2010起，他被推举为IEEE仪器与测量协会的杰出报告人，目前本领域仅有5人。

报告题目：电容层析成像的工程应用

报告时间：2015年9月23日 9:00-11:00

报告地点：11号楼8层教师发展中心学术报告厅

报告内容：电容CT类似于医学CT，电容层析成像(Electrical Capacitance Tomography,简称ECT)技术根据被测物质各相具有不同的介电常数，当各相组分分布或浓度分布发生变化时，将引起混合流体等价介电常数发生变化，从而使测量电极对间的电容值发生变化，在此基础上，利用相应的图像重建算法重建被测物场的介电分布图。本报告主要介绍电容层析成像（ECT）原理、系统及工程应用。